《表1 Co-N-C的XPS表面元素分析结果》

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《钴盐阴离子基团对Co-N-C催化剂电催化活性的影响》

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含不同阴离子的钴盐制备的Co-N-C催化剂的表面化学组成及含量的XPS测试结果见表1。从表1可以看出，所有Co-N-C催化剂都主要由C、O、N、S、Co组成，C的含量最多，而N、S、Co的含量相对较少，而且在Co-N-C催化剂中这些物质的含量明显不同，说明PANI-Co前驱体在热处理过程中被碳化形成碳材料，而其他元素（如O、N、S、Co）成为碳材料的杂质元素，N来源于苯胺，O和S来源于过硫酸铵，Co来源于金属钴盐。虽然Co-N-C/CoC2O4催化剂中C的含量最高，但与其他几种Co-N-C催化剂相比，Co-N-C/CoC2O4催化剂的C含量却很低，而O、S及Co含量相对较高。这些结果表明，阴离子基团对Co-N-C催化剂的化学组成及含量影响较大。此外，XPS分析深度为5~10nm，而EDS分析深度为微米级。XPS能探测到Co-N-C催化剂含有Co，而EDS检测不到，这说明Co-N-C催化剂中Co主要分布在碳颗粒的表面。