《表2 法拉第扫描及线性扫描结果》
完成法拉第扫描试验后,在50 mm熔融石英光学元件上进行线扫描试验,离子束垂直入射光学元件表面。使用干涉仪测量试验后的元件面形获得线扫描数据,经高斯拟合后得到去除函数的测量信息。各组参数的法拉第扫描得到离子束电流密度参数结果和线扫描试验得到的去除函数结果,见表2。
图表编号 | XD00101516800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.11.25 |
作者 | 李晓静、王大森、张旭、张宁、郭海林、裴宁 |
绘制单位 | 中国兵器科学研究院宁波分院、国防科技工业光学超精密加工技术创新中心、中国兵器科学研究院宁波分院、中国兵器科学研究院宁波分院、长春理工大学电子信息工程学院、中国兵器科学研究院宁波分院、中国兵器科学研究院宁波分院 |
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