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绪论1

第一节测试的新领域1

目 录1

第二节数据域测试的基本方法2

第三节计算机辅助测试3

第四节可测性和内测试4

第五节数据域测试仪器5

参考文献5

一、数字系统测试的必要性和复杂性7

第一章数据域测试的基本概念7

第一节数字系统及其测试7

二、故障与测试10

三、测试矢量的产生14

四、测试响应的观察15

五、复杂系统的测试15

第二节穷举测试法16

一、单输出无扇出电路16

二、带汇聚扇出的单输出电路20

三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路22

第三节故障表方法23

一、固定式列表计划侦查23

二、固定计划定位25

三、适应性计划侦查和定位28

本章习题34

第二章组合逻辑电路的测试36

第一节通路敏化36

一、敏化通路36

二、通路敏化法37

三、一维敏化的问题40

四、树形电路41

五、二维敏化41

第二节d算法43

一、d算法的基础知识43

二、d算法的基本步骤46

三、d算法举例47

第三节扩展d算法52

一、基本概念53

二、扩展d算法60

三、举例62

第四节布尔差分法65

一、基本概念65

二、布尔差分及其运算特点67

三、求布尔差分的方法68

四、单故障的测试71

五、多重故障的测试74

六、产生测试的算法76

一、等效范式80

第五节等效范式（ENF）法80

二、文字变量的敏化和测试的寻求82

三、ENF法的特点82

四、寻求最理想测试集的启发式方法84

本章习题88

第三章时序逻辑电路的测试91

第一节迭接电路法91

一、基本思想91

二、故障的侦查92

三、故障的定位98

第二节状态变迁检查法100

一、初始状态的识别和区分序列101

二、终止状态识别以及复原和同步序列107

三、用状态识别法来识别机器110

四、状态变迁检查法112

第三节逻辑电路的时滞测试118

一、时滞测试的基本概念118

二、时滞测试的实现方法120

本章习题121

第一节存贮器的测试127

第四章微机系统的测试127

一、RAM中的故障类型128

二、测试的若干原则性考虑129

三、存贮器测试方法130

四、方法的比较136

五、测试的实施136

第二节微处理器的测试140

一、裸μP的测试142

二、裸μP的算法产生测试143

三、裸μP的功能性测试的一般方法146

一、基本概念151

第三节利用被测系统的应用程序进行测试151

二、应用程序的模型化153

三、关系图155

四、测试的组织157

五、通路测试的算法159

第四节利用总线观察进行测试164

本章习题165

一、概述166

第一节计算机辅助测试的基本概念166

第五章数字系统的计算机辅助测试166

二、CAT的结构模型167

三、测试算法167

四、逻辑和功能描述语言168

五、数据库169

六、输出169

第二节d算法程序169

一、DALG-Ⅱ程序169

二、实用中的具体问题173

一、系统结构175

第三节扩展d算法程序175

二、LISP语言的特点176

三、SXMS测试码自动生成系统179

四、SXMDIAG故障测试系统184

五、应用举例185

第四节微处理器测试产生程序186

一、基本思想187

二、RTL语言简介188

三、测试码的生成190

本章习题196

四、实例197

第六章可测性设计197

第一节可测性的测度198

一、基本定义198

二、标准单元的可测性分析200

三、可控性和可观测性的计算203

第二节可测性设计方法206

一、可测性的改善设计206

二、结构可测性设计208

三、其他可测性设计简介213

一、Reed-Muller展开式215

第三节组合电路的异或门串联结构215

二、异或门串联电路结构测试分析216

第四节内测试设计218

一、多位线性反馈移位寄存器219

二、伪随机数发生器220

三、特征分析器222

四、内测试电路设计224

本章习题226

一、逻辑笔228

第一节简易逻辑测试仪228

第七章数据域测试仪器228

二、逻辑脉冲发生器229

三、电流故障检寻器230

第二节特征分析仪232

一、特征分析仪的基本原理233

二、特征分析仪的故障侦出率233

三、特征分析仪的基本结构237

四、特征分析仪的工作237

五、“特征”设计243

第三节逻辑分析仪244

一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标245

二、逻辑分析仪的基本结构246

三、数据捕获246

四、数据显示256

五、应用260

第四节GP-IB母线分析仪270

一、概述270

二、母线分析仪的作用和功能270

四、国产母线分析仪举例275

三、母线分析仪的内部组织275

第五节开发系统278

一、概述278

二、开发系统的功能和基本结构278

三、仿真器280

四、简易开发系统289

五、通用开发系统290

六、HP64000逻辑开发系统简介298

本章习题300

参考文献301