《数据域测试及仪器 第2版》求取 ⇩

第一章数据域测试的基本概念7

第一节 数字系统的测试7

第二节 穷举测试法16

第三节 故障表方法23

第二章组合逻辑电路的测试35

第一节 通路敏化35

第二节 d算法41

第三节 临界通路法55

第四节 布尔差分法56

第五节 故障字典68

第三章时序逻辑电路的测试73

第一节 迭接电路法73

第二节 时序故障表法79

第三节 状态变迁检查法87

第四节 时延测试94

第四章微机系统的测试104

第一节 存贮器的测试104

第二节 微处理器的测试113

第三节 利用被测系统的应用程序进行测试123

第四节 利用总线观察进行测试133

第五章数字系统的计算机辅助测试135

第一节 计算机辅助测试的基本概念135

第二节 d算法程序138

第三节 扩展d算法程序142

第四节 PODEM算法149

第五节 微处理器测试产生程序152

第六节 故障模拟157

第六章可测性设计164

第一节 可测性的测度165

第二节 可测性设计方法170

第三节 组合电路的异或门串联结构178

第四节 内测试设计181

第五节 边缘扫描技术187

第七章数据域测试仪器198

第一节 简易逻辑测试仪198

第二节 特征分析仪201

第三节 逻辑分析仪213

第四节 GP-IB母线分析仪240

第五节 数据信号发生器248

第六节 开发系统259