《数据域测试技术及仪器》求取 ⇩

目录1

第一章　导论1

1.1　数据域测试的特点1

1.2　数据域测试设备概述1

1.3　几个术语2

1.4　故障模型3

1.5　数字电路的测试5

1.5.1　测试图形产生5

1.5.2　测试评价5

1.5.4　故障模拟6

1.5.3　测试实施6

第二章　组合电路测试10

2.1　敏化通路法和D算法10

2.1.1　敏化通路法10

2.1.2　立方代数简介14

2.1.3 D算法16

2.2　九值算法24

2.2.1　九值算法24

2.2.2　九值算法举例25

2.3　布尔差分法26

2.3.1　布尔差分26

2.3.3　布尔差分实例27

2.3.2　利用布尔差分法求测试矢量27

2.4 布尔差分法的改进——跳变算子法28

2.4.1　跳变算子28

2.4.2　基本门的跳变算子关系式30

2.4.3　测试产生举例31

2.5　故障等价、支配和削减32

2.6　故障表及测试简化34

2.6.1　故障表34

2.6.2　测试简化34

习题36

参考文献37

3.1.1　时序电路的一般模型39

3.1.2　米利模型39

第三章　时序电路测试39

3.1　时序电路模型39

3.1.3　穆尔模型40

3.1.4　几个定义41

3.2　同步时序电路的测试41

3.2.1　迭代阵列41

3.2.2　测试序列的产生42

3.3　异步时序电路的测试46

3.3.1　异步电路的迭代阵列模型47

3.3.2　无临界冒险测试的产生47

3.4.1 概述50

3.4　延迟测试50

3.4.2　基于固定型故障测试产生的延迟测试产生法51

3.4.3　一般同步时序电路的时间故障测试产生54

3.5　半导体存贮器的测试58

3.5.1　半导体存贮器的故障模型58

3.5.2　半导体存贮器的功能测试59

习题62

参考文献63

第四章　随机测试和穷举测试64

4.1　随机测试长度的计算65

4.1.1　随机测试的测试长度65

4.1.2　伪随机测试的测试长度69

4.2　随机测试的故障覆盖73

4.2.1　可检性分布73

4.2.2　伪随机测试的故障覆盖73

4.2.3　随机测试的故障覆盖76

4.3　随机测试有效性的改进77

4.3.1　测试信号概率的选择77

4.3.2　加权随机测试80

4.3.3　改进电路设计80

4.4　时序电路的随机测试83

4.4.1　时序电路施加随机输入序列后的特性83

4.4.2　故障时序电路的错误潜伏和测试置信度85

4.4.3　上限情况的考虑87

4.4.4　时序电路的随机测试88

4.5　穷举测试89

4.5.1 电路划分技术90

4.5.2　验证测试93

4.6　伪穷举测试生成技术98

4.6.1　恒权矢量生成技术98

4.6.2　线性和测试生成技术100

4.6.3　压缩的LFSR生成技术102

4.6.4　线性码测试生成技术104

附录4.1106

习题110

参考文献111

第五章　特征分析技术及仪器114

5.1 引言114

5.1.1　二进制数据流的测试114

5.1.2　跳变计数115

5.1.3　特征分析技术116

5.1.4　特征分析技术的特点116

5.2　串行特征分析器117

5.2.1　伪随机二进制序列发生器117

5.2.2　串行特征分析器的结构118

5.2.3　串行特征分析器的检错率123

5.2.4　检错率的提高126

5.3　并行特征分析器127

5.3.1　并行特征分析器的结构128

5.3.2　并行特征分析器的检错率129

5.4　特征分析仪的原理及使用130

5.4.1　特征分析仪的组成原理131

5.4.2 HP5006A特征分析仪的功能134

5.4.3　正确特征的获取137

5.5　特征激励144

5.5.1　数字系统的特征可测性设计144

5.5.2　特征激励器150

5.6　微机故障诊断仪155

5.6.1　微机故障诊断仪的组成155

5.6.2　微机故障诊断仪的功能156

附录5.1158

习题159

参考文献159

第六章　数字电路的可测性设计161

6.1　概述161

6.2　扫描设计技术161

6.2.1　扫描设计原理：扫描通路（SP）162

6.2.2　随机存取扫描（RAS）164

6.2.3　电平敏化扫描设计（LSSD）166

6.2.4　串行荫蔽寄存器（SSR）169

6.3.1 SA技术在自测试中的应用172

6.3 自测试技术172

6.3.2 BILBO电路及其在自测试中的应用174

6.4 设计可测电路的实际指南179

6.5　可测性的定量分析：CAMOLOT方法181

6.5.1　电路的可控性181

6.5.2　电路的可观察性182

6.5.3　电路的可测性184

6.5.4　可控性值的简单计算184

6.6　扫描设计的测试产生185

6.6.1 PoDEM算法的预备知识185

6.6.2 PODEM算法187

6.6.3 RAPS步骤191

习题193

参考文献194

第七章　微处理器测试及LSI测试仪195

7.1 引言195

7.2　模块测试法197

7.2.1　模块测试法流程197

7.2.2　模块测试法程序设计197

7.2.3　数据与控制逻辑分开测试法205

7.3　指令测试法207

7.3.1　打分法208

7.3.2 T分类法209

7.3.3　最少指令数法210

7.3.4　最小指令覆盖法215

7.4　抽象执行图法216

7.4.1　抽象执行图法216

7.4.2　一致性算法221

7.5　系统图法223

7.5.1　微处理机结构的图论模型223

7.5.2　功能故障模型和测试产生226

7.6　随机测试法230

7.6.1　加权随机测试法230

7.6.2　自适应加权随机测试法233

7.7.1　测试仪的组成234

7.7 LSI测试仪234

7.7.2　算法图形产生器236

7.7.3　存贮式图形产生器241

7.7.4　定时信号产生器244

7.7.5　波形格式控制器245

7.7.6　管脚驱动器246

7.7.7　失效分析存贮器248

习题250

参考文献250

第八章　电路板的测试251

8.1　引言251

8.2.1　接触电路结点252

8.2　在线测试252

8.2.2　隔离技术255

8.2.3　在线测试系统性能的提高263

8.3　仿真测试266

8.3.1　处理器仿真266

8.3.2　存贮器仿真268

8.3.3　总线周期仿真269

参考文献270

第九章　逻辑分析仪和微机开发系统272

9.1　逻辑分析仪272

9.1.1　逻辑状态分析仪272

9.1.2　逻辑定时分析仪280

9.1.3　逻辑分析仪应用举例282

9.2　微型计算机开发系统287

9.2.1　引言287

9.2.2　在线仿真器288

9.2.3 Tek 8550型开发系统的组成288

9.2.4　Tek 8550型开发系统的文件系统291

9.2.5　编辑、汇编和连接293

9.2.6　仿真技术296

9.2.7　服务调用299

9.2.8　触发跟踪分析器303

参考文献303