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目录1

第一章 引言1

1.1 目的和范围1

1.2 可靠性工程介绍1

1.2.1 可靠度和寿命特性1

1.2.2 可靠性退化5

1.2.3 可靠性增长5

1.3 本书的内容6

参考文献7

第二章 可靠性理论及应用8

2.1 可靠性基本理论8

2.1.1 指数失效模型8

2.1.2 建立设备可靠性模型的方法10

2.1.3 建立元件失效模型的方法16

2.2 可靠性管理19

2.3 研制阶段可靠性评价方法22

2.3.1 预计方法23

2.3.2 失效形式分析方法26

2.3.3 可靠性试验29

参考文献32

第三章 军用机载电子系统33

3.1 机载电子设备的发展趋向33

3.2 机载电子设备的环境37

3.3 设备可靠性的技术现状40

3.4 总结和结论：1975年机载电子设备的发展趋向41

参考文献42

第四章 可靠性设计43

4.1 最大限度提高固有可靠性的设计43

4.1.1 元器件的选择与管理43

4.1.1.1 元器件管理44

4.1.1.2 元器件选择准则46

4.1.1.3 元器件筛选63

4.1.2 减额70

4.1.2.1 温度-应力因素71

4.1.2.2 特定减额准则74

4.1.3 环境防护88

4.1.3.1 环境因素88

4.1.3.2 环境防护措施90

4.1.3.3 对封装的一般考虑93

4.1.4 贮备设计94

4.1.4.1 基本概念94

4.1.4.2 贮备技术99

4.1.4.3 设计实例104

4.1.5 设计的简化与分析111

4.1.5.1 设计的简化111

4.1.5.2 退化分析113

4.1.5.3 过应力与瞬变分析117

4.2 使生产和使用过程中的可靠性退化减至最少的设计127

4.2.1 造成可靠性退化的因素128

4.2.2 便于检查和维修的设计130

4.2.2.1 硬件分单元设计131

4.2.2.2 故障的判断133

4.2.2.3 早期失效预计135

4.3 费用设计137

4.3.1 费用设计概述137

4.3.2 费用和可靠性指标的确定142

4.3.2.1 方案论证和审批阶段143

4.3.2.2 研制与生产阶段146

4.3.2.3 平衡设计管理153

4.3.3 满足费用和可靠性指标要求155

参考文献162

附录A 定义、缩写词166

附录B 参考文献介绍172

附录C 单片微电路的失效率180

附录D 标准电子管的特性与失效率193