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§1．1 干涉与干涉术1

1．1．1 干涉发展简史1

第一章 干涉测试基础1

1．1．2 干涉测试技术的应用3

§1．2 基本关系式4

1．2．1 光波的一般表达式4

1，2．2 光波的位相5

1．2．3 光波的空间频率6

1．2．4 光波对辐射探测器的作用8

1．2．5 光波的复数表示9

1．2．6 波场的叠加10

1．3．1 干涉条纹的强度分布11

§1．3 干涉条纹的特性11

1．3．2 干涉条纹的方向和频率13

1．3．3 干涉条纹的对比度14

1．3．4 干涉条纹的定域15

§1．4 不同频率的单色平面波的干涉18

1．4．1 干涉条纹的强度分布18

1．4．2 干涉条纹的方向和频率19

1．4．3 干涉条纹的传播速度19

§1．5 球面波的干涉20

1．5．1 两发散球面波的干涉20

1．5．2 发散球面波与会聚球面波的干涉22

1．5．3 球面波干涉条纹的对比度23

1．6．1 时间相干性24

§1．6 光源的相干性24

1．6．2 空间相干性28

§1．7 对干涉仪元件的一般要求32

本章参考文献34

第二章 单频干涉术35

§2．1 干涉仪及其分类35

2．1．1 分波前双光束干涉仪36

2．1．2 分振幅双光束干涉仪37

§2．2 波前形状的研究38

2．2．1 泰曼-格林干涉仪38

2．2．2 斐索干涉仪41

2．2．3 复杂表面形状的检验43

2．3．1 米基准测定的原理44

§2．3 米基准的测定44

2．3．2 零程差位置的确定48

§2．4 长度测量50

2．4．1 绝对测量法50

2．4．2 相对测量法56

§2．5 位移测量57

2．5．1 小位移测量57

2．5．2 大位移测量60

§2．6 电视微机系统在干涉测长中的应用62

§2．7 电视微机系统波面位相自动探测技术67

2．7．1 三个干涉图法68

2．7．2 一个干涉图法71

2．7．3 条纹扫描法74

2．8．1 等厚干涉法77

§2．8 平行平板的楔度测量77

2．8．2 等倾干涉法80

本章参考文献82

第三章 双频干涉术84

§3．1 双频干涉术84

3．1．1 概述84

3．1．2 光学模拟84

3．1．2 双频干涉术85

3．1．4 双频干涉术与单频干涉术的区别86

§3．2 光频调制技术87

3．2．1 声光调制技术87

3．2．2 磁光调制技术89

3．2．3 电光调制技术91

3．3．1 激光外差干涉仪的原理94

§3．3 激光外差干涉仪94

3．3．2 频率稳定的激光外差干涉仪96

3．3．3 波长稳定的激光外差干涉仪97

§3．4 外差偏振测距干涉仪100

3．4．1 概述100

3．4．2 基本原理101

3．4．3 位相测量装置和线性工作原理102

3．4．4 偏振差动干涉仪105

3．4．5 测试方法108

§3．5 实时外差干涉仪109

3．5．1 概述109

3．5．2 细光束外差位相探测110

3．5．3 宽光束实时外差干涉仪111

§3．6 空气折射率的测定115

3．6．1 概述115

3．6．2 外差位移测量折射仪116

3．6．3 外差测距折射仪118

本章参考文献120

第四章 莫尔干涉术122

§4．1 莫尔干涉测量原理122

4．1．1 概述122

4．1．2 莫尔条纹的形成及分类123

4．1．3 阴影型莫尔条纹原理123

4．1．4 衍射型莫尔条纹原理128

§4．2 莫尔干涉术测位移129

4．2．1 二光栅位移传感器130

4．2．2 三光栅位移传感器131

4．2．3 位移传感器的应用133

§4．3 莫尔干涉术测面形136

4．3．1 照射型莫尔法136

4．2．2 投影型莫尔法138

4．3．3 干涉投影法141

§4．4 莫尔干涉术测变形和振动142

4．4．1 平面外变形测量142

4．4．2 平面内变形测量142

4．4．3 振动测量143

§4．5 莫尔干涉术测流体折射率及其梯度144

4．5．1 折射率梯度测定144

4．5．2 流体折射率测定146

§4．6 莫尔条纹的自动处理150

4．6．1 自动探测方法150

4．6．2 计算机自动分析152

本章参考文献154

第五章 全息术156

§5．1 全息术原理156

§5．2 全息图的记录、储存和重现157

5．2．1 全息图的记录157

5．2．2 一个点的全息图记录158

5．2．3 全息图的储存161

5．2．4 全息图的波前再现162

5．3．1 菲涅耳变换和傅里叶变换164

§5．3 全息图的分类164

5．3．2 按物波和参考波形成的方式分类165

5．3．3 按记录干涉图的方式分类166

§5．4 全息图的基本性质169

§5．5 全息术的应用178

5．5．1 全息显微术178

5．5．2 全息信息存储180

5．5．3 特征识别182

5．5．4 用逆滤波器消除模糊184

§5．6 实验中注意的问题185

本章参考文献187

第六章 全息干涉术188

§6．1 全息干涉术原理188

§6．2 全息干涉术的特征190

§6．3 实时全息干涉术192

§6．4 双曝光全息干涉术194

§6．5 时间平均全息干涉术197

§6．6 频闪照明全息干涉术201

§6．7 全息等高线术202

6．7．1 双光源照明法202

6．7．2 双波长法203

6．7．3 双折射率法206

§6．8 反射照明全息图的计算207

6．8．1 位移和倾斜的分析计算207

6．8．2 三维变形的干涉条纹分析209

§6．9 全息干涉术的应用210

6．10．2 计算全息图的制作213

§6．10 计算全息图检验非球面213

6．10．1 计算全息原理213

6．10．3 测试原理216

本章参考文献219

第七章 全信息测量技术220

§7．1 自动处理全息图220

7．1．1 概述220

7．1．2 自动处理全息图221

§7．2 实时全息干涉术的全信息测量223

7．2．1 物理模型223

7．2．2 位移与位相衫的基本关系式224

7．2．3 三个干涉图法原理225

7．2．4 四个干涉图法原理227

7．2．5 移相器229

7．2．6 数据的采集和处理230

§7．3 双曝光全息干涉术的全信息测量231

7．3．1 测量原理231

7．3．2 基本公式232

7．3．3 对两参考光源的要求234

§7．4 全信息测量的光学系统235

7．4．1 基本结构型式235

7．4．2 参考光束位相的调制237

7．4．3 频率漂移238

§7．5 电学系统与自控技术240

7．5．1 快门241

7．5．2 电视摄相机242

7．5．3 压电位移器243

7．5．4 画图监视器和打印机244

§7．6 表面变形的全信息测量244

7．6．1 测试原理244

7．6．2 典型系统245

7．6．3 应用举例247

§7．7 胶体硬化时厚度变化的全信息测量249

7．7．1 基本原理249

7．7．2 测试系统251

7．7．3 测试结果252

本章参考文献256

§8．1 散斑及其特性258

8．1．1 散斑现象258

第八章 散斑干涉术258

8．1．2 散斑特性259

§8．2 散斑照相术测位移262

§8．3 散斑照相术测振动264

§8．4 散斑照相术测倾斜267

§8．5 散斑干涉术270

本章参考文献272

第九章 光源、记录介质和探测器273

§9．1 全息干涉对光源的要求273

§9．3 固体激光器273

§9．2 气体激光器276

§9．4 对全息记录材料的要求283

9．5．1 分辨率285

§9．5 卤化银照相乳胶285

9．5．2 线性响应286

9．5．2 卤化银乳胶的漂白290

§9．6 光导热塑料291

§9．7 硅酸铋晶体294

§9．8 电视摄像机296

§9．9 固体图像传感器298

9．9．1 固体传感器的基本结构299

9．9．2 电荷传输技术300

9．9．3 面阵图像传感器301

9．9．4 扫描(抽样)理论302

9．9．5 特征参数304

9．9．6 信噪比305

本章参考文献306