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目录第一部分 总表表01 ECL集成电路主要参数符号及引出端功能符号表2

表02 ECL集成电路系列品种、型号一览表6

表03 ECL集成电路诸品种外引线功能端排列图9

表04 ECL集成电路系列品种简要特性表18

第二部分 ECL集成电路基础绪论24

第一章 ECL集成电路基础28

1.1 ECL基本门电路的结构和工作原理28

一、基本门电路的结构28

二、基本门电路的工作原理30

一、特点32

1.2 ECL电路的特点及应用范围32

二、应用范围35

1.3 ECL门电路的逻辑扩展36

一、“线或”结构36

二、“点与”结构37

三、“串级门”结构38

1.4 改进型及变型ECL电路41

一、温度-电压全补偿的ECL电路41

二、E2CL电路43

三、EFL电路44

一、ECL触发器概述45

1.5 ECL触发器概述及工作原理45

二、ECL触发器的工作原理46

第二章 ECL集成电路系列51

2.1 概述51

2.2 ECL诸系列集成电路的特性51

一、CE1600系列1毫微秒集成电路的特性51

二、CE10K系列2毫微秒集成电路的特性52

三、CE12K系列高速锁相环集成电路的特性52

五、CE11C00系列亚毫微秒集成电路、CE100K系列亚毫微秒全补偿集成电路的特性53

四、CE8000系列高速低功耗分频器的特性53

2.3 ECL诸系列集成电路的性能比较54

一、主要电性能54

二、速度-功耗特性57

三、功耗-频率特性58

四、工作温度范围58

五、基本门电路的结构59

六、电路封装61

一、电路损坏的极限定额值63

3.2 ECL集成电路的极限定额值63

第三章 ECL集成电路的技术数据63

3.1 概述63

二、电路性能退化的极限定额值64

3.3 ECL集成电路的直流参数64

一、电源电流64

二、输入高电平电流和输入低电平电流65

三、输出高电平电压、输出低电平电压和输出高电平阈值电压、输出低电平阈值电压65

四、输入特性69

3.4 ECL集成电路的电压转换特性69

一、电压转换特性曲线69

二、电压转换特性简析72

三、温度和电源电压对电压转换特性的影响73

3.5 ECL集成电路的噪声容限73

一、直流噪声容限的测定73

二、直流噪声容限值74

二、交流抗扰度74

3.6 ECL集成电路的交流参数75

一、主要交流参数75

二、电源电压和温度对开关时间的影响77

三、CE10K系列电路的品种80

二、CE10K系列电路的工作特性80

第三部分 ECL集成电路系列品种第四章 CE10K系列2毫微秒集成电路80

一、CE10K系列电路的特点80

4.1 概述80

4.2 门电路——CE10101/CE10501,CE10102/CE10502,CE10104/CE10504,CE10105/CE10505,CE10106,CE10107/CE10507,CE10109/CE10509,CE10110,CE10111,CE10117/CE10517,CE10118,CE10119,CE10121/CE1052183

一、门的工作特性86

二、门的应用92

4.3 触发器92

一、锁存触发器——CE10130,CE10133,CE1017595

二、主-从触发器——CE10131/CE10531,CE10231/CE10631,CE10176,CE1013598

4.4 计数器——CE10136,CE10137108

一、同步计数器的工作特性108

二、计数器的典型应用115

4.5 线接收器——CE10115,CE10116/CE10516,CE10216116

一、线接收器的工作特性117

二、线接收器的应用120

4.6 电平转换器——CE10124,CE10125,CE10177120

一、TTL-ECL、ECL-TTL电平转换器——CE10124,CE10125120

二、ECL-NMOS电平转换器——CE10177124

一、译码器——CE10161,CE10162,CE10171,CE10172126

4.7 译码器、编码器126

二、编码器——CE10165134

4.8 数据选择器136

一、双2选1数据选择器——CE10132,CE10134138

二、四2选1数据选择器——CE10158,CE10159,CE10173142

三、8选1和双4选1数据选择器——CE10164,CE10174144

四、选择器的典型应用150

一、移位寄存器的工作特性153

4.9 移位寄存器——CE10141153

二、移位寄存器的典型应用156

4.10 运算电路156

一、数值比较器——CE10166156

二、奇偶校验／产生器——CE10160,CE10170159

三、加法／减法器——CE10180163

四、4位算术逻辑单元／函数产生器——CE10181166

五、超前进位产生器——CE10179168

二、CE1600系列电路的主要应用范围177

一、CE1600系列电路的特点177

第五章 CE1600系列1毫微秒集成电路177

5.1 概述177

三、CE1600系列电路品种178

5.2 门电路——CE1611,CE1660,CE1661,CE1616,CE1617,CE1672,CE1674178

一、CE1600系列基本门电路的工作原理178

二、基本门电路的典型工作特性180

三、CE1600系列门电路的电参数189

四、CE1600系列电路的使用说明189

五、门电路的典型应用192

一、D型触发器简介195

5.3 触发器——CE1615,CE1618,CE1670,CE1666,CE1668,CE1690195

二、CE1600系列触发器的电参数199

三、触发器的典型应用199

5.4 计数器、分频器和移位寄存器——CE1654,CE1678,CE1694,CE1697,CE1699204

一、计数器204

二、分频器207

三、移位寄存器210

5.5 接口电路——CE1692213

一、CE1692四线接收器的工作原理213

二、主要性能213

三、典型应用214

5.6 A/D转换器——CE1650/CE1651216

一、A/D转换器的工作原理216

二、主要性能217

三、典型特性及其测试方法218

四、典型应用223

第六章 CE12K系列高速锁相环集成电路225

6.1 概述225

一、锁相技术的应用225

二、基本的锁相环路225

三、频率合成器简介226

四、CE12K系列电路品种229

6.2 压控振荡器——CE1648230

一、CE1648主要电参数231

二、电路原理分析231

三、变容管偏置电压和振荡频率的关系233

四、温度特性235

五、使用中的几个问题235

6.3 鉴频／鉴相器——CE12040237

一、CE12040主要电参数238

二、电路原理分析239

三、鉴频／鉴相特性241

四、“泵”电路——ER4807243

五、TTL型鉴频／鉴相器——ER4044245

6.4 双模数前置（预）分频器——CE12012251

一、CE12012主要电参数251

二、工作原理256

三、使用中的几个问题260

四、典型应用262

一、CE12013主要电参数264

6.5 600MHz双模数前置预分频器——CE12013264

二、工作原理265

三、使用中的几个问题268

6.6 可编程序十进计数器——ER4016268

一、ER4016主要电参数269

二、工作原理269

三、典型应用270

6.7 计数控制逻辑电路——CE12014/CE12514270

一、CE12014/CE12514主要电参数271

二、工作原理274

三、典型应用280

7.1 概述285

一、CE8000系列分频器的特点285

二、CE8000系列分频器的工作特性285

第七章 CE8000系列高速低功耗分频器285

三、CE8000系列分频器的应用范围286

四、CE8000系列分频器的品种286

7.2 高速低功耗分频器286

一、高速低功耗分频器的结构和工作原理286

二、高速低功耗分频器的工作特性289

一、÷2前置分频器——CE8607,CE8602,CE8603,CE8604291

7.3 前置分频器291

二、÷4前置分频器——CE8600,CE8616,CE8614295

三、÷5前置分频器——CE8620,CE8622300

四、÷10前置分频器——CE8630,CE8632,CE8668302

五、÷16前置分频器——CE8650305

7.4 双模数前置分频器——CE8643,CE8685306

一、工作特性307

二、典型应用310

一、特点313

7.5 低功耗前置分频器——CE8655,CE8657,CE8659313

二、工作特性315

三、典型应用316

7.6 二-十进制前置分频器——CE8634,CE8635,CE8636,CE8637316

一、特点316

二、工作特性316

三、典型应用319

三、CE11C00系列电路品种321

一、双4-5输入或／或非门电路——CE11C01321

8.2 门电路321

一、CE11C00系列电路的特点321

二、CE11C00系列电路的主要应用范围321

8.1 概述321

第八章 CE11C00系列亚毫微秒集成电路321

二、门电路的主要特性322

三、典型应用323

8.3 触发器和压控振荡器323

一、750MHzD型触发器——CE11C06323

二、650MHzD型触发器（有R-S端）——CE11C70325

四、双压控多谐振荡器——CE11C24326

三、触发器的使用方法326

8.4 计数分频器330

一、1000MHz÷4前置分频器——CE11C05330

二、1000MHz÷248/÷256双模数分频器——CE11C83332

三、650MHz双模数分频器——CE11C90/CE11C91336

第九章 CE100K系列亚毫微秒全补偿集成电路345

9.1 概述345

9.2 工艺结构、电路特点及应用范围345

一、CE100K系列的工艺结构345

二、CE100K系列的电路特点347

三、CE100K系列电路的主要应用范围351

9.3 门电路——CE100101,CE100102,CE100107,CE100112,CE100117,CE100118351

一、基本门电路的工作原理351

二、CE100K系列门电路的电参数358

9.4 触发器——CE100130,CE100131,CE100150360

一、CE100K系列触发器的品种和功能360

二、CE100K系列触发器的电参数363

9.5 计数／移位寄存器——CE100136365

一、CE100136 4位计数／移位寄存器的结构和功能365

一、CE100K系列运算电路的品种和功能367

二、CE100136 4位计数／移位寄存器的电参数367

9.6 运算电路——CE100160,CE100166,CE100179,CE100180,CE100181367

二、CE100K系列运算电路的电参数375

第四部分 ECL集成电路测试与应用第十章 ECL集成电路的测试方法380

10.1 概述380

一、基本参数及其涵义380

二、测试方法分类384

10.2 静态（直流）参数测试方法384

一、电源电流（IEE）384

二、输入电流（IIH和IIL）384

四、输出阈值电平（VOHA和VOLA）385

三、输出电平（VOH和VOL）385

10.3 动态（交流）参数测试方法386

一、传输延迟时间（tpd）386

二、上升时间（tr）和下降时间（tf）387

三、最高工作频率（fM）389

四、建立时间（tset）和维持时间（th）390

五、最小脉冲宽度及分辨时间（tWmin）391

10.4 交流抗扰度的测试方法392

一、输入噪声392

二、VCC噪声394

三、VEE噪声395

四、VTT噪声397

10.5 对测试系统的要求及测量精度399

一、对测试系统的要求399

二、测量仪器及测量精度400

第十一章 ECL电路系统设计规则402

11.1 ECL电路的逻辑设计方法402

一、正、负逻辑等效方法402

二、ECL与TTL逻辑功能比较404

三、TTL设计变换到ECL设计的方法405

四、逻辑设计的某些考虑407

11.2 系统的互连408

一、系统布局的考虑408

二、传输线409

三、端接线与非端接线414

四、电缆线、双绞线的应用方法425

五、印制电路板的布线技术430

11.3 电源分配与热特性432

一、系统的电源分配434

二、底板和插件板上的电源分配435

三、VTT和VEE电源438

四、热特性参数440

五、直流热特性442

六、散热方法444

第十二章 ECL集成电路的使用注意事项449

12.1 电源449

一、ECL电路的工作电源的几种接法449

二、输入直流偏置电压的几种接法450

12.2 功耗453

12.3 负载454

12.4 扇出455

12.5 外引线排列顺序及识别方法456

第十三章 ECL集成电路的应用458

13.1 ECL集成电路在脉冲生成中的应用458

一、ECL振荡器458

二、脉冲成形器467

三、单稳态电路469

四、单脉冲电路471

五、脉冲延时电路474

六、实验用ECL脉冲信号源举例475

13.2 ECL计数器和分频器477

一、二到九进制计数器和分频器477

二、十进制计数器和分频器481

三、其它进制计数器和分频器486

13.3 ECL组合电路的应用488

一、译码器和编码器488

二、数据选择器和数据分配器500

三、数值比较器505

四、校验校正电路508

五、运算逻辑电路511

13.4 ECL电路的其它应用516

一、电平转换电路516

二、线性应用518

三、高速锁相环520

四、移位寄存器和移位器522

五、综合应用524

一、可靠性的重要意义543

二、可靠性的基本概念543

14.1 概述543

第十四章 ECL集成电路的可靠性543

14.2 影响ECL电路可靠性的主要因素及提高可靠性的途径545

一、保护E-B结546

二、缓解电迁移效应546

三、消除C-E极间漏电547

四、减少氧化层针孔547

五、采用表面钝化处理547

六、提高封装和键合质量547

一、常规的质量考核试验548

14.3 ECL集成电路可靠性试验方法及试验结果548

七、严格进行工艺筛选548

二、长期可靠性试验550

三、现场考核试验556

14.4 失效现象及失效分析556

一、失效判别依据557

二、失效现象及一般分析558

三、几种失效机理分析562

第五部分 附录附录Ⅰ ECL集成电路图形符号566

附录Ⅱ ECL集成电路封装外形尺寸569

附录Ⅲ ECL集成电路国内外型号对照表572