《逻辑分析仪原理与应用》求取 ⇩

第一章 数据域检测与逻辑分析仪1

1.1 引言1

1.2 数据域与数据域仪器2

1.3 数字系统信号特征及其对检测的要求4

1.4 逻辑分析仪的特点6

1.4.1 逻辑分析仪与示波器的比较7

1.4.2 逻辑分析仪的特点11

1.5 逻辑分析仪的分类15

第二章 逻辑分析仪的基本功能与原理18

2.1 数据的采集方式18

2.1.1 采样方式18

2.1.2 锁定方式21

2.2 触发与跟踪方式22

2.2.1 触发、触发字与跟踪方式22

2.2.2 基本触发23

2.2.3 延迟触发24

2.2.4 序列触发27

2.2.5 “非”触发32

2.2.6 出错触发34

2.2.7 “或”触发34

2.2.8 触发限定36

2.2.9 交互触发37

2.2.10 毛刺触发40

2.2.11 触发窗口40

2.2.12 关于触发的小结41

2.3 数据的存储41

2.3.1 基本存储方式42

2.3.2 选择性存储43

2.3.3 瞬变存储48

2.3.4 三种存储方法的比较52

2.4 数据的显示52

2.4.1 状态表显示52

2.4.2 定时图显示56

2.4.3 图形显示58

2.4.4 映射图显示61

2.4.5 电平显示64

2.4.6 双门限方式65

2.4.7 输入信号状态显示67

2.5 其它功能67

2.5.1 比较和检索67

2.5.2 计数测量69

2.5.3 列消隐69

第三章 逻辑状态分析仪71

3.1 数据获取71

3.1.1 探头71

3.1.2 延迟网络74

3.1.3 暂存器(采样电路)77

3.1.4 限定与触发识别电路78

3.1.5 触发产生电路79

3.1.6 数字延迟电路81

3.1.7 存储控制82

3.1.8 存储器83

3.1.9 时序信号产生器84

3.1.10 数据获取工作过程85

3.2 逻辑状态分析仪的数据显示87

3.2.1 状态表显示原理87

3.2.2 映射图显示原理97

3.2.3 联机工作方式的数据显示99

第四章 逻辑定时分析仪101

4.1 引言101

4.2 最高工作频率与时间分辨力102

4.2.1 最高工作频率102

4.2.2 影响时间分辨力的因素103

4.2.3 解决分辨力与观察窗口之间矛盾的两种实用方法107

4.3 异步触发与触发滤波108

4.3.1 异步触发108

4.3.2 触发滤波108

4.4 毛刺检测与毛刺触发110

4.4.1 毛刺110

4.4.2 锁定工作方式112

4.4.3 毛刺方式114

4.4.4 毛刺存储115

4.4.5 毛刺触发及其与毛刺检测的关系118

4.5 时间延迟119

第五章 智能逻辑分析仪121

5.1 清单121

5.1.1 格式清单121

5.1.2 跟踪清单122

5.1.3 比较清单和区域跟踪清单124

5.2 工作原理126

5.2.1 触发字设置与触发识别电路126

5.2.2 门限电平产生电路128

5.2.3 状态控制器128

5.2.4 序列触发130

5.2.5 区域跟踪134

5.2.6 时间标志电路136

5.2.7 数据显示138

5.2.8 微处理器控制141

5.2.9 软件146

第六章 逻辑分析仪的发展趋势149

6.1 速度、通道和存储容量150

6.2 逻辑分析系统151

6.2.1 逻辑分析系统的组成151

6.2.2 逻辑分析系统的特点与应用153

6.3 系统性能分析154

6.3.1 软件性能分析155

6.3.2 硬件性能分析155

6.3.3 常见的两种直方图156

6.3.4 性能分析基本工作原理158

6.4 特征分析159

6.4.1 特征分析基本原理160

6.4.2 特征分析的两种形式160

6.5 遥控分析与自动测试163

6.5.1 遥控分析163

6.5.2 自动测试164

6.6 与微计算机相结合165

6.6.1 逻辑分析仪与微机相结合的优点165

6.6.2 逻辑分析仪与微机相结合的两种方法166

6.7 单片逻辑分析仪168

6.7.1 单片逻辑分析仪的特点169

6.7.2 HP1651A的特点与分析171

6.8 便携式逻辑分析仪180

6.9 独特的功能181

6.9.1 主动测试方式181

6.9.2 仿真183

6.9.3 引入模拟通道184

6.9.4 显示方式多样化185

6.9.5 使用自然语言185

6.9.6 选件多样化与功能扩充186

第七章 逻辑分析仪的选用190

7.1 选用原则190

7.2 分析测试需要190

7.3 选择逻辑分析仪193

第八章 逻辑状态分析仪的应用202

8.1 引言202

8.2 逻辑状态分析仪的应用特点和常用功能203

8.2.1 逻辑状态分析仪的输入信号203

8.2.2 逻辑状态分析仪的触发选择211

8.2.3 逻辑状态分析仪的存储和显示218

8.3 逻辑状态分析仪的基本应用--跟踪程序实例226

8.3.1 被跟踪的对象226

8.3.2 基本跟踪方法227

8.3.3 时钟限定和选择跟踪在实例中的应用233

8.4 逻辑状态分析仪应用实例237

8.4.1 用逻辑状态分析仪监测偶发故障237

8.4.2 检测微计算机送至输出口的数据241

8.4.3 用序列触发跟踪程序中的特定路径246

8.4.4 观测Z80响应中断的过程249

8.4.5 用比较功能测试ROM251

8.4.6 程序执行时间的测量253

8.4.7 用双时钟同时测量系统中的高、低速部分255

8.4.8 用计数和条件清除功能统计事件次数257

第九章 逻辑定时分析仪的应用260

9.1 逻辑定时分析仪的应用特点260

9.1.1 逻辑定时分析仪的数据采集261

9.1.2 定时图的调整和时间测量267

9.1.3 逻辑定时分析仪的触发选择274

9.1.4 逻辑定时分析仪的显示特点275

9.2 逻辑定时分析仪的基本应用--定时图的调整和观测278

9.2.1 观察译码器各路输出信号的时序279

9.2.2 测量一路信号的持续时间281

9.2.3 观察有无毛刺存在282

9.2.4. 寻找毛刺产生的原因283

9.3 逻辑定时分析仪应用实例285

9.3.1 观测Z80-PIO的输出过程285

9.3.2 中断响应及脱离暂停的观测288

9.3.3 观测对复位信号的响应时间291

9.3.4 异步触发持续时间的应用294

9.3.5 用毛刺触发功能检测故障原因296

9.4 GPIB系统的观测与分析299

9.4.1 GPIB系统的简单工作过程300

9.4.2 被测系统及其运行程序实例303

9.4.3 用逻辑分析仪观测GPIB的工作过程307

9.4.4 用逻辑分析仪改进GPIB程序实例309

9.4.5 三线挂钩过程的测试311

第十章 逻辑分析仪在微计算机化设备研制中的应用317

10.1 微计算机化设备的研制过程317

10.2 大规模和超大规模集成电路的测试319

10.2.1 激励--响应法在集成电路测试中的应用320

10.2.2 测试实例--用激励响应法测试MPU322

10.3 逻辑分析仪在微计算机化设备总装过程的应用328

10.3.1 CPU的装配测试330

10.3.2 检验ROM的工作331

10.3.3 检验RAM和I／O设备的工作333

10.4 交互分析的应用337

10.4.1 常用交互分析及其实验演示实例338

10.4.2 用交互分析排除故障实例345

10.5 性能分析的应用349

10.5.1 性能分析用于微计算机化设备的设计过程349

10.5.2 性能分析应用实例350

第十一章 用逻辑分析仪对软件和硬件进行剖析356

11.1 引言356

11.2 用逻辑分析仪剖析存储器内容359

11.2.1 剖析EPROM存储内容的原理和电路359

11.2.2 用逻辑分析仪剖析EPROM实例362

11.3 用逻辑分析仪动态分析程序执行过程365

11.3.1 动态分析与静态分析的比较365

11.3.2 根据硬件寻找与待分析程序有关的信号369

11.3.3 动态剖析程序实例371

11.4 用逻辑分析仪剖析硬件电路384

11.4.1 硬件剖析的场合及步骤384

11.4.2 用逻辑分析仪剖析硬件电路实例387