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译者的话1

前言1

第一章 射线探伤基础1

1.1 射线的贯穿和散射1

1.1.1 单一波长X射线的贯穿和衰减1

1.1.2 连续X射线的贯穿和衰减4

1.1.3 宽束X射线的贯穿和衰减6

1.2 射线探伤原理11

1.2.1 被检体的对比度11

1.2.2 射线探伤的各类12

1.3 感光材料13

1.3.1 X射线胶片13

1.3.2 照相黑度14

1.3.3 X射线胶片的特性曲线15

1.3.4 X射线胶片的颗粒性17

1.3.5 X射线胶片的种类17

1.3.6 增感屏18

第二章 射线透照灵敏度21

2.1 射线底片的对比度21

2.1.1 厚度差和射线底片对比度21

2.1.2 散乱射线和射线底片对比度23

2.1.3 几何条件和射线底片对比度24

2.2 射线底片的识别界限对比度25

2.2.1 缺陷在射线底片上的对比度及其识别25

2.2.2 识别界限对比度26

2.2.3 感光材料和识别界限对比度28

2.3 射线底片象质的改善28

2.3.1 一般检验和精密检验28

2.3.2 改善方法28

2.3.3 壁厚补偿层的利用29

2.3.4 屏蔽层的利用(窄视野透照法)30

2.4 观察方法和缺陷的识别31

2.4.1 观片器31

2.4.2 射线底片的表现对比度31

2.4.3 观察方法和透度计识别度32

第三章 射线透照条件36

3.1 射线的线质及其选择36

3.1.1 X射线的线质和照射率36

3.1.2 线质和射线源种类对对比度的影响37

3.2 几何因素及其选择39

3.2.1 焦点及射线源尺寸39

3.2.2 焦点尺寸和几何布置引起的影象模糊和放大41

3.2.3 焦点尺寸和底片对比度43

3.2.4 辐射场内的焦点尺寸和放大率的影响43

3.3 曝光条件的确定44

3.3.1 曝光因子44

3.3.2 曝光曲线图45

3.4 X射线胶片特性曲线和曝光曲线图的利用47

3.4.1 X射线胶片特性曲线用的坐标纸47

3.4.2 透照条件和X射线胶片的特性曲线47

3.4.4 曝光条件的修正50

3.4.3 X射线胶片和增感屏的组合及相对感光度50

3.4.5 底片黑度范围的确定52

3.4.6 试件的容许厚度差54

第四章 放射线管理57

4.1 射线管理的重要性57

4.1.1 使用前的管理58

4.1.2 使用中的管理58

4.1.3 使用后的管理59

4.2 射线的管理59

4.2.1 射线探伤时的有害X射线59

4.2.2 前散射线量率60

4.2.3 后散射线量率61

4.2.5 减少有害射线的方法63

4.2.4 漏射线的线量率63

4.2.6 射线防护法令67

4.2.7 管理区和禁区的确定67

4.3 射线的测定68

4.3.1 电离作用和射线的测定69

4.3.2 电离箱式剂量仪69

4.3.3 胶片剂量计70

4.3.4 其他测定法71

5.1 标准的各类72

第五章 标准及其说明72

5.2 日本工业标准JIS Z 3104-196873

5.3 日本工业标准JIS Z3105-1977105

5.4 日本工业标准JIS Z3108-1978128

5.5 日本工业标准JIS Z3109-1980159

5.6 日本工业标准JIS G0581-1968168

5.7 日本工业标准JIS Z3861-1979206

5.8 其它JIS标准219

5.8.1 JIS Z3106-1971219

5.8.2 JIS Z3107-1973220