《应用带电粒子光学 第一卷》
作者 | A·赛普蒂 编者 |
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出版 | 未查询到或未知 |
参考页数 | |
出版时间 | 1987(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 819939778(仅供预览,未存储实际文件) |
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序言1
第一章计算静电场和磁场的数值方法1
1 引言1
2 静电透镜1
一、静电学方程1
前言2
二、电荷密度法2
3真空静磁学和介质静磁学3
一、基本方程3
二、与电流相关联的系统4
三、轴对称系统的方程7
四、结论8
4 拉普拉斯方程和泊松方程的离散化以及网格的生成8
一、网络法的原理8
二、网格的生成9
5 差分方程11
一、泰勒级数法11
二、场方程的积分法12
三、有限元法18
6 差分方程组的解法23
一、迭代法23
7 结果25
二、直接解法25
参考文献27
第二章低强度束光学特性计算和象差校正的方法28
1 引言28
2 运动方程的数值解法29
一、运动方程的形式29
二、轨迹跟踪的数值方法35
三、一些典型的应用37
3 象差系数的结构38
一、象差多项式38
二、象差矩阵46
三、部件的组合50
四、计算机代数系统与象差系数54
4 最佳化与象差的部分校正58
一、系统的最佳化58
二、象差的校正69
三、达姆斯特丹的高分辨率方案82
5 结束语86
一、专用数字处理设备87
二、最后按语88
参考文献88
1 引言100
第三章发射度、亮度的定义与测量100
2 定义与基本性质102
一、哈密顿表示法与刘维定理102
二、发射度与亮度、基本定义110
三、发射度概念的改进119
3 发射度和亮度的测量124
一、关于粒子束诊断的一般说明124
二、积分径迹-空间密度分布126
三、四维径迹空间密度分布132
五、发射度测量的改进147
四、真实空间密度剖面图:“非破坏性方法”147
4 结束语152
符号与规定154
参考文献155
第四章高分辨扫描透射低能离子显微镜和微量分析器160
1 引言160
2 纳米级微探针的形成161
一、亮度以及有关的一些束流量161
二、对束斑尺寸的影响162
三、用光学系统的象差表示的最佳设计参数163
四、受探针电流限制的分辨率:亮度要求164
一、场致电离源166
3 高比亮度的源166
二、用于STIM的场致离子发射器171
三、电流体动力学离子源174
4 SIM和STIM光学系统的设计、象差174
一、场致离子枪177
二、有两个或更多个光学单元的系统180
5 利用各工作系统得到的结果184
一、采用FI源的枪式显微镜185
二、采用EHD源的枪式显微镜191
三、多元镜筒193
6 将来的发展194
附注195
参考文献196
第五章高能离子微探针199
1 用高能离子进行表面分析199
2 兆电子伏能区离子的光学系统200
一、一般考虑200
二、准直器系统203
三、聚焦元件204
四、微探针装置206
3 研究结果选摘212
4 将来的发展214
参考文献215
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