《原子吸引分析中的背景吸收及其校正》

目 录4

1． 原子吸收中的背景吸收干扰4

1.1什么是背景吸收干扰4

1.2分子吸收7

1.3 光散射25

1.4背景吸收的其它特征29

2．石墨炉原子吸收分析中降低和消除39

背景吸收干扰的各种方法39

2.1选择蒸发39

2.2化学处理46

2.3萃取技术56

3． 原子吸收分析中的各种背景校正方法62

3.1非共振线法背景校正62

3.2.1连续光源背景校正系统的构造及原理65

3.2连续光源背景校正65

3.2.2．背景校正光源及其供电系统70

3.2.2.1氘灯的光电特性70

3.2.2.2氘灯电源72

3.3塞曼效应背景校正74

3.3.1 塞曼效应及其用于原子吸收的历史75

3.3.2塞曼背景校正的各种方案和商品塞曼原子82

吸收分光光度计的原理82

3.3.2.1横向恒定磁场置于光源的塞曼原子吸收84

光谱仪84

3.3.2.2横向恒定磁场置于原子化器的塞曼原子85

吸收光谱仪85

3.3.2.3横向交变磁场置于原子化器的塞曼原子87

吸收光谱仪87

3.4 空心阴极灯强脉冲自吸收法背景校正89

背景校正95

3.5连续光源——阶梯光栅单色器——波长调制95

4． 背景校正系统的光谱特性105

4.1交替测量时间差引起的误差105

4.2样品蒸气在原子化器内分布的影响114

4.3光子噪声对背景校正的限制119

4.4检测电路对背景校正性能的影响124

5． 背景校正性能的检测方法及评价133

5.1各种背景校正性能的测量方法133

5.1.1静态法133

5.1.2一定静态背景条件下测量原子吸收信号136

5.1.3动态模拟背景法138

5.1.4实际样品的分析141

5.2描述有关背景校正性能的参数144

5.2.1背景校正残余量144

5.2.2背景校正倍数145

5.2.4背景校正能力147

5.2.3背景校正精度147

6． 背景校正中的光谱线重迭干扰150

6.1 结构背景及共存物对连续光源的吸收150

6.2共存元素的光谱线重迭干扰170

6.2.1 原子吸收中的光谱线重迭干扰170

6.2.2塞曼原子吸收中的光谱线重迭干扰175

6.2.3光谱线重迭干扰的评价187

7． 各种背景校正方法的分析特性195

7.1 灵敏度195

7.1.1塞曼原子吸收的灵敏度195

7.1.2 S—H方法的分析灵敏度215

7.2校正曲线218

7.2.1 塞曼原子吸收的校正曲线218

7.2.2 S—H方法的校正曲线230

7.3各种背景校正装置中的信噪比特性232

7.4结束语239