本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括：基于IEEE1149。1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。

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