本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性，同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。书中全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法，包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。

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