《表2 不同温度下烘烤48 h后基体未高温储存时的气体含量》
(%)
基体指未镀金的可伐外壳。基体中的含氢量不可忽视,镀金会明显抑制氢的逸散[4]。为了排除基体中氢释放造成器件损坏的隐患,首先考察烘烤温度对基体中氢释放的影响,结果见表2。基体未经任何处理时的氢含量约为0.15%,经不同温度烘烤后均小于0.01%。随后考察经不同温度烘烤后再封帽和250°C×48 h高温储存后外壳氢含量的变化,结果见表3。经过250°C×48 h的烘烤释放后,氢含量依旧很高,在0.4%~0.5%之间,远远超出0.1%的限值;而300°C×48 h及350°C×48 h烘烤后,哪怕经过高温储存,基体内腔测得的氢含量也小于0.01%。
图表编号 | XD00100461000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.15 |
作者 | 刘思栋、申忠科、敖冬飞、樊正亮 |
绘制单位 | 南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |