《表2 氧化铝校准曲线漂移校正数据》

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《X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量的质量控制方法》

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漂移校正样是用于校正仪器的变化，所以其化学和物理性质要比较稳定，即漂移校正样在长期放置后不能有变化。压片样品作为漂移校正样，其表面会发生变化，而要制备一批粉末样为漂移校正样非常繁琐，本实验室采用XRF自带的4个校准样品SQ1、SQ2、SQ3及STG2作为漂移校正样，定期对校准曲线进行漂移校正。由于长期使用中发现本实验室X射线荧光光谱仪稳定性很好，因而规定每两月对氧化铝校准曲线进行漂移校正，数据见表2。