《表2 枝条抗寒性指标相关性》

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《不同低温处理时间对扁桃枝条抗寒性的影响》

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注:*P<0.05显著相关，**P<0.01极显著相关；表格中X1～X8表示扁桃枝条各项抗寒指标。

通过不同时间低温处理发现电导率与处理时间呈正相关，持续低温时间越长，电导率越大，对扁桃枝条的伤害越大。如表2所示，在不同时间低温处理下电导率与脯氨酸呈极显著正相关，与MDA、可溶性糖呈显著正相关，而与POD呈显著负相关，说明扁桃枝条在低温不同时间处理下电导率增大脯氨酸含量、MDA含量和可溶性糖含量增加，POD酶活性降低；MDA与淀粉呈显著正相关，说明低温处理下MDA含量的变化与淀粉的变化有关；POD与可溶性糖和脯氨酸含量呈显著性负相关，说明低温处理下枝条内POD酶活性降低与可溶性糖和脯氨酸增加有关；CAT活性与可溶性蛋白质含量呈极显著正相关，说明在处理时间下CAT活性变大与可溶性蛋白增加有关。