《表2 工频局放试验对GIS缺陷的检测效果[36]》

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《GIS中SF_6绝缘系统缺陷放电的“0-1”现象》

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CIGRE WG D1.03报告中曾报道过现场工频耐压和局部放电试验对不同GIS缺陷的检测效果，如表2所示[36]，发现在Un（80%的GIS设备工频耐受电压）下，各类缺陷的局部放电量基本都在几p C量级，造成缺陷检测困难。而导致该问题的关键原因就是SF6绝缘系统中缺陷放电的“0-1”现象[32]。