《表4 传感器试验次数:常规加泄连接器发讯性能试验分析》
参试产品分别按照数量1~5,计算得到每个传感器需开展的最少试验次数,如表4所示。
图表编号 | XD0085535100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.10 |
作者 | 张振华、王建秋、刘照智、王洪丽、孙贺 |
绘制单位 | 北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
参试产品分别按照数量1~5,计算得到每个传感器需开展的最少试验次数,如表4所示。
图表编号 | XD0085535100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.10 |
作者 | 张振华、王建秋、刘照智、王洪丽、孙贺 |
绘制单位 | 北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所、北京航天发射技术研究所 |
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