《表1 测试序列：列控车载设备安全功能测试序列优化方法研究》

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《列控车载设备安全功能测试序列优化方法研究》

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采用SA-IC算法求解上述TSP问题，求得最小路径代价为177，TSP问题的最优结果为:a8-a12-a17-a16-a10-a6-a11-a13-a18-a19-a2-a9-a3-a14-a4-a15-a5-a1-a7-a8，结合Floyd算法计算出有向图G中各个顶点之间的最短路径，进而可以得到对应的测试序列如下:SB-a15-CO-a8-SB-a16-OS-a12-SB-a17-SH-a13-SB-a16-OS-a10-CO-a6-OS-a11-SH-a13-SB-a18-SL-a19-SB-a14-FS-a2-OS-a9-FS-a3-SH-a13-SB-a14-FS-a4-SB-a15-CO-a5-FS-a1-CO-a7-SH-a13-SB。由于测试序列过长，在SB处截断优化，最终形成8个新序列，得到的8个测试序列见表1。