《表2 压力容器应力校核规范》
注:Sm为材料的许用应力。
对于应力较高的位置,将各应力分量沿应力分布线进行当量化处理,同时提取危险路径一次局部薄膜应力PL、一次弯曲应力PB以及二次应力Q',并根据压力容器应力校核规范[19-20](表2)进行一次局部薄膜应力、一次局部薄膜应力加弯曲应力及一次应力加二次应力的校核评定。
图表编号 | XD0080909900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.25 |
作者 | 王宇峰、何庆中、陈雪峰、赵献丹、刘怡 |
绘制单位 | 四川理工学院机械工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |