《表3 DUT 180#试验样品辐照前后坏块变化数据表》
利用试验获取的数据,计算了不同状态下的单粒子翻转截面。表3和表5分别给出了重离子辐照前后,DUT 180#上4个试验样品和DUT 179#上3个试验样品(另一批次采购)的坏块变化情况。从表中可以看出,重离子辐照可以导致闪存存储器坏块的增加。表4和表6分别给出了重离子辐照后,DUT 180#上4个试验样品和DUT 179#上3个试验样品(另一批次采购)的翻转数据情况。
图表编号 | XD0069087500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.25 |
作者 | 曹洲、薛玉雄、高欣、安恒、张晨光 |
绘制单位 | 兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室、兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室、兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室、兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室、兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室 |
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