《表1 结构精修得出的Bi3O3SeBr晶体结构参数 (空间群P 4/nmm, a=3.92284 (6) 魡, c=20.23814 (3) 魡)》

《表1 结构精修得出的Bi3O3SeBr晶体结构参数 (空间群P 4/nmm, a=3.92284 (6) 魡, c=20.23814 (3) 魡)》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《新型层状多阴离子化合物Bi_3O_3SeBr的晶体结构和物理性质》


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使用该初始结构模型,对XRD粉末衍射数据进行Rietveld全谱拟合[15-16].由于Br离子和Se离子具有相同的电子云密度和X射线散射能力,XRD无法区分两者;而且Bi3O3SeBr中O离子对于X射线强度的贡献最小,其准确位置也不能确定.参考Bi2O2Se和BiOBr的晶体结构特点[10,17],做出如下合理假定:(1)Br离子和Se离子分别在Bi2O2层间形成双原子插层和单原子插层,并且完全有序分布;(2)O2位于在Bi2O2层的正中间,即2zO2=zBi1+zBi2.在此基础上,固定氧原子的温度因子为0.012 7魡2,设定不同Bi原子具有相同的温度因子,以晶胞参数和其他原子的分数坐标和温度因子为可变量,对XRD数据进行Rietveld全谱拟合.最终拟合图谱如图1所示,具有很高的可信度,其权重全谱拟合因子Rwp为7.3%.所得结构的重要参数如表1所列,其部分键长如表2所列.