《表3 不确定度分析：Ga-In-Sn微型共晶点相变特性研究》

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《Ga-In-Sn微型共晶点相变特性研究》

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测量的重复性选取标准铂电阻温度计在固定点上3次测量结果，利用极差法计算标准不确定度。铂电阻温度计稳定性选取定周期的测量中多次变化的标准偏差。杂质的影响参照中国计量科学研究院中温基准实验室对基准固定点评估的OME方法对共晶点进行计算[12，13]。复现过程中所使用的标准电阻存放在控温油槽中，油槽温度最大波动度值为0.01℃，对波动值按照均匀分布，由此计算出标准电阻由温度波动引起电桥测量的标准不确定度。电桥中电阻比值的扩展不确定度按照均匀分布计算。在相变过程中，温度计从固定点容器底部上提，在0～30 mm内，温度计变化的测量结果与静压修正理论计算的最大偏差除以作为标准不确定度。经计算合成扩展不确定度为9.3 m K，见表3。