《表1 光谱部分系统指标参数》
光谱部分系统的主要目的是能够实现在400~1 000 nm波段内光谱分辨率可达2 nm的分光成像。具体可根据光谱范围选定美国ON Semiconductor的KAF-3200探测器,CCD相关参数以及详细的光学系统设计指标参数如表1所示。
图表编号 | XD0065896100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.25 |
作者 | 穆竺、王加科、吴从均、颜昌翔、刘智颖 |
绘制单位 | 长春理工大学光电工程学院光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室、长春理工大学光电工程学院光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、长春理工大学光电工程学院光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室 |
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