《表2 第1次光学移频稳定性测试数据》
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《Zeta电位测量中基于PZT的光学移频装置的研制》
光学移频装置在每次稳定性试验中工作30min,每隔5min进行1组测试,每组重复测试5次,取5次测量值的平均值作为该组的测量结果,每次稳定性试验进行7组测试,共进行了3次稳定性试验,光学移频量数据列表如表2~4所示。
图表编号 | XD0061613500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.01 |
作者 | 叶辉、邱健、韩鹏、彭力、骆开庆、刘冬梅 |
绘制单位 | 华南师范大学物理与电信工程学院、华南师范大学物理与电信工程学院、广东省光电检测仪器工程技术研究中心、华南师范大学物理与电信工程学院、广东省光电检测仪器工程技术研究中心、华南师范大学物理与电信工程学院、广东省光电检测仪器工程技术研究中心、华南师范大学物理与电信工程学院、广东省光电检测仪器工程技术研究中心、华南师范大学物理与电信工程学院、广东省光电检测仪器工程技术研究中心 |
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