《表2 元素测量条件：粉末压片-X荧光光谱法测定氧化锌富集物中Zn的含量》

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《粉末压片-X荧光光谱法测定氧化锌富集物中Zn的含量》

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实际X射线荧光分析中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，其基体成份是变化的，它直接影响待测元素特征X射线强度的测量，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一[8]。压片法制样的基体效应主要由试样的粒度和矿物结构引起[9]。粒度越小，基体的干扰也越小，当颗粒尺寸小到一定程度，荧光强度开始趋于稳定[10]。因此，可以通过充分的研磨和过筛获得粒度达到200目来降低基体效应，实验结果参见表2。