《表4 白色粉末元素分析》

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《一起±800kV换流站极I直流穿墙套管故障分析》

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将套管法兰上收集到的粉末使用扫描电子显微镜（仪器在30k V及3k V加速电压的条件下二次电子分辨率分别能达到3nm与10nm，试验过程采用15k V加速电压）进行了进一步的成分分析。试验的基本原理是高能的入射电子轰击物质表面与待测样品物质相互作用，搜集激发的电子，可获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息，对X射线的采集，可得到物质化学成分的信息。套管粉末直接用金属导电胶粘附，在扫描电子显微镜下进行粉末颗粒形态分析和微区能谱分析。粉末扫描电镜下的形态如图3所示；白色粉末分析结果如表4所示。