《表2 样品设计要求:N型4H-SiC表面改性及性能研究》
SiC晶片置于150℃的干燥箱中烘烤10 min,取出来用去离子水洗涤干净,并在氮气环境下储存。按照上述方法选取最合适的温度和处理时间,用食人鱼溶液处理SiC晶片,测量它的水接触角,两面表面形貌图。引入反应官能团,在室温下以氮气为保护气氛,将芯片浸入2%的甲苯溶液中2 h,由于无水甲苯和丙醇都是易燃物质,实验应在通风橱中和密闭装置中进行。然后将样品取出用异丙醇洗涤数次,在氮气流下干燥,测其表面水滴接触角和表面形貌。在通风橱下,将SiC晶片在氮气保护下浸入含10μL的炔丙胺与1 mL无水甲苯的混合溶液中,在室温下搅拌4 h。最后,将SiC晶片用CH2Cl2洗涤数次,并用吹风机将晶片吹干,再测其接触角和表面形貌。
图表编号 | XD0057344400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.18 |
作者 | 王利忠、李斌、王英民、魏汝省、侯晓蕊、张世伟 |
绘制单位 | 山西烁科晶体有限公司、山西烁科晶体有限公司、山西烁科晶体有限公司、山西烁科晶体有限公司、山西烁科晶体有限公司、山西烁科晶体有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |