《表4 SEU次数对照表》
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分别对三块经过抗辐照加固和未进行抗辐照加固的DDS芯片进行单粒子翻转对比实验，实验结果如表4所示，饱和即为复位状态，无法工作。
| 图表编号 | XD0057025800 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.08.20 |
| 作者 | 杨阳、陶建中、万书芹、邱丹 |
| 绘制单位 | 江南大学物联网工程学院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、江南大学物联网工程学院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
