《表3 共沉淀法制备的各前驱粉体平均晶粒尺寸》

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《"热障涂层陶瓷层材料LnMgAl_(11)O_(19)(Ln=La,Nd)粉体的性能"》

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根据X射线衍射理论，当晶粒尺寸小于100 nm时，应力引起的宽化和晶粒尺寸引起的宽化相比可忽略不计，因此可通过Debye-Scherrer公式结合XRD计算得出样品的晶粒尺寸。用共沉淀法合成的各粉体平均晶粒尺寸，如表3所示。