《表2 不同模板剂比例制备的SAPO-34分子筛织构性质》

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《双模板剂法SAPO-34分子筛的合成及其MTO催化性能调变》

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一般来说，在分子筛晶粒完整无缺陷的情况下，其比表面积与晶粒尺寸成反比，由图2的SEM电镜图片可知，合成所得的SAPO-34样品晶粒外表面无明显的缺陷，分子筛晶粒尺寸排序:R=0.5>R=∞>R=2.0>R=7.0>R=4.9，不同TEAOH与TEA比例分子筛的织构性质如表2所示，不同样品的比表面积基本与晶粒尺寸排序相反。晶粒尺寸偏大的R=0.5和R=∞样品的比表面积明显偏低，而晶粒尺寸较小的R=2.0、R=7.0和R=4.9的比表面积均超过700m2/g。R=4.9外比表面积最高，这是由于晶粒尺寸减小，暴露的外表面更多的缘故，然而相对于R=2.0和R=7.0两个样品，晶粒尺寸最小R=4.9的总比表面积却不是最高的，主要是微孔比表面积低造成的，这说明R=4.9样品结晶度要比前两者低，这与R=4.9样品XRD特征峰强度最低是一致的。