《表1 试验原始记录：一种用于激光告警的PIN面阵探测系统设计》

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《一种用于激光告警的PIN面阵探测系统设计》

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在试验系统测试过程中，PIN阵列探测电路工作正常，处理系统能够从探测电路的输出数据中准确提取激光照射到的光敏元位置。在处理系统中，经相邻通道数据融合，试验系统的实际角度分辨率达到6°，如表1所示。