《表1 本文设计与国外芯片测试指标对比》
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本文设计的芯片与AMS公司的TSL237的测试指标参数对比如表1所示。可以看出，在芯片尺寸与光电二极管尺寸相同的条件下，所设计的芯片主要技术指标与国外器件相当。
| 图表编号 | XD0051412200 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.06.01 |
| 作者 | 李毅强、吴治军、翟江皞、祝晓笑、王世腾 |
| 绘制单位 | 重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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