《表4 实验结果：钨合金的X射线屏蔽性能模拟分析与实验验证》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《钨合金的X射线屏蔽性能模拟分析与实验验证》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

在射线源管电压100 kV、管电流200μA，且不加任何阻挡时，电离室处测得的辐射剂量为2696.76 mSv/h，视为该射线源能够达到的最大射线剂量率；当使用2 mm的90钨镍铁合金片置于射线源窗口进行射线阻挡时，电离室处的剂量率测得值为6.48μSv/h；增加90钨镍铁合金片厚度至2.5 mm时，可将电离室处的射线剂量率降低到1.73μSv/h，相比最大剂量率已衰减到百万分之一量级，测试结果列于表4中。作为参考，实验还测试了钨合金的铅当量，测试结论为1 mm的90钨镍铁合金，在100 kV的X射线入射时，其铅当量约为1.75 mm铅。