《表1 ATC芯片的实际测量结果 (Rt=820kΩ, C=0.01μF)》

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《一种CMOS工艺的ATC芯片的设计》

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流片后利用实验设备进行了芯片的在片测试，图10（a）、（b）为在不同的输入下芯片流片后的测试波形.由测试结果可以看出:芯片能实现模拟电压到数字时间信号的转换.表1为ATC芯片封装后的部分实际测量结果，可看出ATC芯片能实现线性的模拟电压到数字时间信号的转换，后级通过对时间信号的计数就可以最终实现ADC.