《表2 膜基界面处原子的电荷密度Tab.2 Calculated charge density at the atomic interface》
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《金属元素Co、Fe、Cu、Ti对孕镶金刚石基底CVD金刚石涂层膜基界面结合强度的影响》
通过界面处电荷密度图能分析孕镶金刚石基底与CVD金刚石涂层膜基界面在结构最稳定情况下原子与原子之间的电荷密度分配及成键方式[20]。图5分别展示了不同金属元素掺杂的孕镶金刚石基底CVD金刚石涂层模型的电荷密度图,表2展示了各模型界面附近的电荷密度仿真结果。
图表编号 | XD0048327600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 简小刚、何嘉诚、王俊鹏、甘熠华 |
绘制单位 | 同济大学机械与能源工程学院、同济大学机械与能源工程学院、同济大学机械与能源工程学院、同济大学机械与能源工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |