《表2 表1中各组数据退化量初值、漂移系数和扩散系数》
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《基于Wiener过程的数控转台极小子样可靠性分析》
由1.2节的计算过程并结合表1中的数据,得出Wiener模型的各参数,见表2。
图表编号 | XD0039168300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.01 |
作者 | 张云、姜楠、王立平 |
绘制单位 | 清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室、清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室、清华大学机械工程系精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室 |
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