《表2 植入术中并发症及其发生与DFT测试的相关性》

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《"面对ICD植入术中的除颤测试,我们在考量"》

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首先，诱发室颤不同于自发室颤，自发性室颤比诱发性室颤频率更快且规则性更低，而室颤的规则性与除颤的可能性直接相关，在术中进行DFT测试并不能完全模拟临床实际情况[47，48]；其次，现代ICD器械和设计的突飞猛进，特别是大能量ICD的使用，让原来因高DFT需要术中调整系统的比例从2.2%～12%降至3%～6%[12]。在真实临床环境中多数情况下患者发生的是室速，可通过ATP来有效转复。即使第一次除颤转复没有成功，后续除颤的转复成功率很高。一项835例ICD植入患者参与的队列研究中，129例进行了传统的DFT测试，503例进行了安全范围测试，203例未行任何测试，随访临床上出现事件时除颤的成功率无显著性差异（91%vs.91%vs.92%），且第一次电除颤失败的第二次均获得成功[6]。而且DFT有可能导致相关并发症甚至死亡，表2列举了植入术中并发症的发生率及其发生是否与DFT测试直接相关[12，46，49-54]。此外，术中DFT测试需要额外的麻醉人力物力支持，这种条件并不普遍可及，且将增加医疗费用。事实上术中不进行DFT测试的患者比例在美国的大学附属医院中逐渐升高，2000～2002年为10.4%，2003～2005年为18.6%，2006～2008年为29.6%[55]。在意大利，这个比例是30%～67%[56-58]。