《表3 普通面板模型下4种模型形式的检验统计量》
注:***表示1%的显著水平,**表示5%的显著水平,*表示10%的显著水平。
依据式(6)所建立的计量模型,对普通面板模型下4种模型形式的检验统计量进行测度,结果如表3所示。第一,比较4种模型形式下的拟合优度检验统计量发现,与混合效应下的拟合优度相比,加入空间效应及双向效应下的模型拟合水平有大幅度的提高,两个模型的整体拟合程度良好。第二,对其对数似然函数值进行比较,空间固定效应和双向固定效应下log-L值分别为237.59和258.77,远高于另外两个模型,最为理想。同时,空间固定效应模型下LM-lag、LM-error以及Robust LM-lag、Robust LM-error均在1%置信水平下通过显著性检验;而双向固定效应模型下,尽管LM-lag和LM-error的稳健性检验在5%置信度下通过显著性检验,但LM-lag和LM-error统计量的显著性检验在10%的置信水平下未能通过。综上可知,应选择空间固定效应模型形式进行解释变量估计。
图表编号 | XD003795700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.01.01 |
作者 | 赵巧芝、闫庆友、赵海蕊 |
绘制单位 | 华北电力大学经济管理系、华北电力大学经济与管理学院、华北电力大学经济管理系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |