《表3 失调电压Voffset测试结果》

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《结合晶体管版图效应分析的模拟集成电路设计》

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考虑外部环境对测量结果的干扰，为平衡输出误差，每一枚TEG芯片取16次测试结果的平均值作为失调电压的最终值。失调电压Voffset测试结果见表3。10枚芯片的测量结果中，CS-amp1在两枚TEG中无法测得有效输出，因此，只统计8枚芯片的计算结果。