《表2 表面粗糙度模型方差分析Tab.2 Analysis of variance of surface roughness》

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《基于响应曲面法与改进非支配遗传算法电火花线切割单晶硅工艺优化》

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表2是表面粗糙度的RSM模型方差分析的结果:模型P值小于0.000 1表示这个模型极其显著，相关指数R2与矫正相关指数Adjusted-R2是解释模型预测值与实际实验数据之间的重合程度的指标，模型的相关指数R2为0.988 5，矫正相关指数Adjusted-R2为0.977表示模型方程能够很好的预测工艺结果。由以上分析可得关于表面粗糙度的RSM模型预测精度很高。表3是关于切削效率RSM模型的方差分析，模型P值小于0.000 1表示该模型有意义，其拟合指数R2，矫正拟合指数Adjusted-R2分别为0.913 6与0.827 2意味着模型能够很好的解释输入工艺参数与输出响应结果之间的关系，这意味着该模型具有很高的预测精度。