《表2 DFF PUF与其他类型PUF的性能对比》
实验中,在不同工作环境下(一周内不同时间段,温度变化为15~30℃),对同一FPGA板上的PUF进行了大量重复性测试。测试结果如表2和图10所示,横坐标表示PUF电路系统内部的汉明距离,纵坐标为对应汉明距离所占的比例。
图表编号 | XD0034492600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 张培勇、袁晓东、王雪洁、冯忱晖、李宜珂 |
绘制单位 | 浙江大学超大规模集成电路研究所、浙江大学超大规模集成电路研究所、浙江大学城市学院信息与电器工程学院、福州大学物理与信息工程学院、浙江大学超大规模集成电路研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |