《表2 DFF PUF与其他类型PUF的性能对比》

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《基于D触发器的物理不可克隆函数》


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实验中,在不同工作环境下(一周内不同时间段,温度变化为15~30℃),对同一FPGA板上的PUF进行了大量重复性测试。测试结果如表2和图10所示,横坐标表示PUF电路系统内部的汉明距离,纵坐标为对应汉明距离所占的比例。