《表2 基于GO/ (PEDOT∶PSS) 双HTL的电池的性能参数》
相比单一的PEDOT∶PSS HTL层,加入GO有利于能级匹配,如图1(b),可以提高空穴提取速率,同时阻挡电子复合[17].同时为了进一步阻挡PEDOT∶PSS对ITO电极的腐蚀,将GO/PEDOT∶PSS作为双空穴层,引入到钙钛矿电池中.图5给出了采用0.25mg/mL、0.5mg/mL、1mg/mL浓度GO溶液制备的器件的J-V曲线图.结果表明GO浓度为0.5mg/mL时,制备的器件性能最优,平均PCE为6.65%,最高PCE为7.69%.由表2可见,当GO浓度为0.5mg/mL或1mg/mL时,加入GO HTL的器件其Voc要略高于PEDOT∶PSS对照组器件的Voc.GO与PEDOT:PSS具有匹配的HOMO能级(分别为-4.9eV和-5.0eV),构成双空穴传输层,有利于空穴传输;同时,GO的LUMO能级(-1.9eV)比CH3NH3PbI3的导带能级(-3.9eV)高得多,因此可以有效阻挡电子流向ITO电极,降低了PEDOT∶PSS/ITO界面载流子复合,从而改善了Voc[18].由于GO是绝缘性的,作为ITO阳极界面层时,其绝缘性会随着厚度的增加而增大,导致器件的串联电阻增大,从而降低电池器件的短路电流[19-20](图5).随着GO浓度增加,旋涂制备的GO薄膜厚度也增大,短路电流降低更明显.
图表编号 | XD0032846100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.03.01 |
作者 | 王云祥、张继华、吴艳花、王红航、易子川、张小文、刘黎明 |
绘制单位 | 电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学中山学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室中山分实验室、电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学电子科学与工程学院、电子科技大学中山学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室中山分实验室、电子科技大学中山学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室中山分实验室、电子科技大学中山学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室中山分实验室、桂林电子科技大学广西信息材料重点实验室、电子科技大学中山学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室中山分实验室 |
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