《表1 CODEV中鬼像路径信息表》

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《多角度偏振成像仪鬼像校正方法》

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研究鬼像首先要确定会产生严重鬼像的光学工作面.将设计好的光学系统在CodeV中进行鬼像分析，找出DISC项较小时对应的光学表面（DISC项表示鬼像在像面的弥散斑半径）.部分结果见表1，其中DBEF为鬼像系统后焦距，EFL为鬼像系统有效焦距.对于DISC较大的面，先不予考虑，因为这些光学表面产生的鬼像在像面的照度相对较低.