《表2 10次独立重复性测量数值统计结果》

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《提高MEMS用超薄硅片厚度测量质量的研究》


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用编号为1(U值为0.3μm)的晶片对Proforma 300测试系统进行核查。首先用该校准样片在Proforma 300设备上进行10次重复测量,结果如表2所示。