《表2 不同高串阻电池组件试验前和1 000 h湿热实验后的电性能数据》

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《户外运行17年单晶硅光伏组件性能失效研究》

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表2为各组件在湿热试验前后的电性能数据，图8是各组件在湿热试验前后的EL图和湿热实验后的红外图像。三块组件经过DH1000测试后，其电性能衰减值均达到IEC61215（2005）规定小于5%的要求。正常片组件A的衰减值为1.33%，另两块高串阻组件B和C的衰减值分别为3.12%和1.41%。其中，组件B的电池高串阻主要为烧结炉气氛不稳、浆料污染等问题导致，组件C高串阻电池主要是由扩散方块电阻偏高导致。组件B（高串阻EL正常）的衰减值为3.12%，比正常片高1.77%，观察组件B湿热试验后的EL图像（如图8e、f所示），发现旧组件主栅处多处出现发亮现象，对应的红外图像显示温度也较高，说明该处焊带可能已经脱焊，但正常片与由扩散方阻导致高串阻的电池组件没有出现脱焊现象，说明采用烧结炉气氛不稳或者浆料污染等问题导致的高串阻电池组件（EL图像正常）在湿热环境下可能会增加主栅处脱焊和腐蚀的风险。