《表1 有限元分析与材料参数》
在钨电阻器一短边施加电流,另一短边接地,在COMSOL中进行热—电耦合仿真分析,初始温度为室温(293.15 K),所用到的材料参数如表1所示,其中使用50 nm铜(Cu)作为待测薄膜。
图表编号 | XD0028801800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.20 |
作者 | 蒲逸然、谢建良、王昕 |
绘制单位 | 电子科技大学国家电磁辐射控制材料工程技术研究中心、电子科技大学国家电磁辐射控制材料工程技术研究中心、电子科技大学国家电磁辐射控制材料工程技术研究中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |