《表1 不同角度光入射到余弦校正器仿真结果》

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《提高光电式日照计测量精度方法的研究》

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余弦响应特性是影响日照观测精度的重要因素，余弦响应特性本质上是指探测器所接收到不同太阳入射角下的电信号数值与光入射角符合余弦定律[5]。由于探测器表面在大角度入射光照射下菲涅尔反射现象严重，因此需要在探测器表面添加能够有效修正大角度入射光的余弦校正器，采用Tracepro软件对余弦校正器进行建模和仿真，选取三个入射角度的Tracepro仿真图如图3所示，仿真数据如表1所示。