《表3 不同文献的离子迁移率Tab.3 Ion nobilities by pervious experiments》
对本文第一节阐述的计算过程进行分析,影响本文方法计算结果的因素主要有两点:导线粗糙系数和正负离子迁移率。其中导线粗糙系数是有导线本身特性决定的物理量,对于确定的导线,其数值为固定值。空间环境的温湿度、气压等因素会对正负离子迁移率有一定的影响,是影响电晕电流和无线电干扰的不确定因素。上节计算中取正离子迁移率为1.5×10-4m2/v·s,负离子迁移率为1.8×10-4m2/v·s[7]。本节参考国外文献给出的不同离子迁移率数据,分析了对无线电干扰计算结果的影响规律。表3给出了不同文献给出的离子迁移率数值或计算方法。
图表编号 | XD0023844100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.01.30 |
作者 | 张建功、赵军、张业茂、陈国强 |
绘制单位 | 中国电力科学研究院、中国电力科学研究院、中国电力科学研究院、中国电力科学研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |